微型真空探針臺 參考價：面議
Mini CPS微型真空探針臺介電/壓電/鐵電/熱釋電/光電材料的電學性能表征，機械彈性設計，避免探針損壞薄膜樣品。
鐵電分析儀 參考價：面議
FEMS100鐵電分析儀采用虛擬接地測量技術模式，提高測量精度，適用溫度-160℃～450℃。
介電溫譜測量系統(tǒng) 參考價：面議
介電溫譜測量系統(tǒng)測量介電常數(shù)、介電損耗、阻抗以及它們隨溫度、時間、頻率變化的曲線，同時得出相位θ、Cole-Cole圖、導納圖和壓電材料的機電耦合系數(shù)（選配）等...
高壓極化裝置 參考價：面議
高壓極化裝置可以對不同材料、厚度的陶瓷樣品進行多路同步極化。每路可設置不同的的極化電壓和電壓時間，并且每路極化互不影響。具有安全互鎖功能，取樣和放樣時，高壓切斷...
高溫電阻測量系統(tǒng) 參考價：面議
高溫電阻測量系統(tǒng)使用多種測量方法測量材料電阻，如四線電阻法，2線法，三環(huán)電極法，4探針法等。
薄膜電阻測試儀(四探針、電渦流) 參考價：面議
電阻測量和監(jiān)控對于任何使用導電薄膜的行業(yè)都至關重要，從半導體制造到可穿戴技術所需的柔性電子產(chǎn)品。R50薄膜電阻測試儀(四探針、電渦流)在金屬膜均勻性分布、離子摻...
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